Instytut Chemii Ogólnej i Ekologicznej
 
 

Instytut Chemii Ogólnej i Ekologicznej PŁ

Laboratorium wykonuje między innymi następujące rodzaje zleceń:

  • Analiza jakościowa i ilościowa składu pierwiastkowego próbek stałych (m.in. katalizatorów, adsorbentów, nośników, włókien, próbek kryminalistycznych, stomatologicznych) i ciekłych ( m.in. woda, gleba, żywność, produkty naturalne).
  • Analiza pierwiastkowa i izotopowa powierzchni.
  • Analiza morfologii powierzchni.
  • Analiza składu chemicznego powierzchni próbek stałych.
  • Analiza składu chemicznego w głębi próbek (depth profiling).
  • Badania zawartości rtęci całkowitej w próbkach stałych, ciekłych i gazowych.

Kierownik: dr hab. inż. Małgorzata Iwona Szynkowska, prof. PŁ

W celu uzyskania dalszych informacji prosimy o kontakt z kierownikiem pracowni, lub z dr Ewą Leśniewską (ICP, AAS, SEM, analiza rtęci), dr Alekandrą Pawlaczyk (ICP), dr Jackiem Rogowskim (TOF-SIMS).
tel. 42-631-30-99


Wyposażenie laboratorium:

Atomowy spektrometr emisyjny z plazmą indukcyjnie sprzężoną (ICP-OES) IRIS-AP, Thermo Jarell Ash

  • Analizy pierwiastków śladowych w próbkach ciekłych i stałych (organicznych i nieorganicznych, m.in. w materiałach biologicznych, geologicznych i środowiskowych).
  • Wysoka precyzja i dokładność, niskie granice wykrywalności, szeroki zakres oznaczanych stężeń, możliwość jednoczesnej analizy wielu pierwiastków.

 

Spektrometr mas z jonizacją w plazmie sprzężonej indukcyjnie z systemem do odparowania laserowego (ICP-QMS) X-Series Thermo Electron Corporation, Laser Ablation New Wave Research

  • Analizy pierwiastków śladowych w próbkach ciekłych i stałych (organicznych i nieorganicznych, m.in. w materiałach biologicznych, geologicznych i środowiskowych).
  • Wysoka precyzja i dokładność, niskie granice wykrywalności, szeroki zakres oznaczanych stężeń, możliwość jednoczesnej analizy wielu pierwiastków.
  • Impulsowy laser (np. laser neodymowy Nd:YAG) umożliwiający bezpośrednie wprowadzenie próbek ciał stałych do plazmy (rezultatem oddziaływania wysokoenergetycznej wiązki lasera z ciałem stałym jest odparowanie i usunięcie materiału w postaci obojętnych atomów i cząsteczek, oraz jonów, z wystawionej na to promieniowanie powierzchni ciała stałego).
  • System LA-ICP-MS stosuje się do analizy różnych materiałów stałych (przewodzących i nieprzewodzących), o różnej wielkości i kształcie, gdzie wiązka lasera z wyjątkowo dokładną lokalizacją może być zogniskowana na bardzo małej powierzchni próbki, a odparowane cząstki są natychmiast analizowane.
  • Możliwość wykonania analizy przy znikomym uszkodzeniu próbki.

 

Spektrometr mas z jonizacją w plazmie sprzężonej indukcyjnie z analizatorem czasu przelotu z systemem do odparowania laserowego ICP-ToF-MS Optimass 8000 GBC, Laser Ablation LA LSX-500 Cetac
  • Analizy pierwiastków śladowych w próbkach ciekłych i stałych (organicznych i nieorganicznych, m.in. w materiałach biologicznych, geologicznych i środowiskowych).
  • Wysoka precyzja i dokładność, niskie granice wykrywalności, szeroki zakres oznaczanych stężeń, możliwość jednoczesnej analizy wielu pierwiastków.
  • Impulsowy laser (np. laser neodymowy Nd:YAG) umożliwiający bezpośrednie wprowadzenie próbek ciał stałych do plazmy (rezultatem oddziaływania wysokoenergetycznej wiązki lasera z ciałem stałym jest odparowanie i usunięcie materiału w postaci obojętnych atomów i cząsteczek, oraz jonów, z wystawionej na to promieniowanie powierzchni ciała stałego).
  • System LA-ICP-MS stosuje się do analizy różnych materiałów stałych (przewodzących i nieprzewodzących), o różnej wielkości i kształcie, gdzie wiązka lasera z wyjątkowo dokładną lokalizacją może być zogniskowana na bardzo małej powierzchni próbki, a odparowane cząstki są natychmiast analizowane.
  • Analizator czasu przelotu (TOF) pozwala na jednoczesne wykrycie wszystkich pierwiastków zawartych w badanych próbkach (między innymi: geologicznych, środowiskowych, kryminalistycznych oraz tekstylnych, jak również w analizie i ochronie dzieł sztuki)
  • Możliwość wykonania analizy przy znikomym uszkodzeniu próbki.

 

Analizator rtęci: MERCURY – SP-3D Nippon Instruments Corporation (CV AAS) oraz MA 3000 Nippon Instruments Corporation

  • Oznaczanie za pomocą atomowej spektrometrii absorpcyjnej zawartości rtęci techniką zimnych par (cold vapour atomic absorption spectrometry - CV AAS).
  • Możliwość oznaczeń rtęci w próbkach stałych, ciekłych, lotnych oraz benzynach z wysoką czułością i dokładnością.
  • Zakres pomiarowy aparatu: 0,01-1000 ng rtęci z rozdzielczością 0,01ng (granica oznaczalności wynosi 0,01 ng).

 

Skaningowy mikroskop elektronowy z mikroanalizą rentgenowską (SEM-EDS) HITACHI S-4700, EDS Thermo NORAN
  • Możliwość badania powierzchni różnorodnych ciał stałych dzięki wysokiej rozdzielczości i dużej głębi ostrości.
  • Bezpośrednia obserwacja rozwiniętych powierzchni w dużym zakresie powiększeń od 20 do 500 000 razy ze zdolnością rozdzielczą od 1,5–3 nm (przy napięciu 15 kV).
  • Wytworzenie obrazu morfologii próbki za pomocą sygnałów elektronów SE i BSE.
  • Analiza jakościowego składu pierwiastkowego powierzchni (widmo promieniowania rentgenowskiego, EDS) oraz rozkład pierwiastków na badanym obszarze próbki (mapy rozkładu EDS).

 

Spektrometr mas jonów wtórnych z analizatorem czasu przelotu (TOF-SIMS, TOF-SIMS IV, ION-TOF)

Bombardowanie badanej próbki krótkimi seriami jonów pierwotnych (np.: Bin+, Cs+, Ar+, Xe+) powoduje wybijanie z powierzchni ciała stałego jonów wtórnych pierwiastków lub cząsteczek. Analiza stosunku ładunku do masy wybijanych jonów, pierwiastków i cząsteczek dostarcza informacji o składzie chemicznym warstw w toczeniu bombardowanej powierzchni (na podstawie pomiaru czasu przelotu pomiędzy powierzchnią badanej próbki, a detektorem cząstek naładowanych, ponieważ jony docierają do detektora po czasie ściśle związanym z ich masą). Umożliwia to uzyskanie widm mas jonów wtórnych z wysoką rozdzielczością masową oraz mapy rozkładu wybranych jonów na powierzchni.

 

Atomowy Spektrometr Absorpcyjny wyposażony w kuwetę grafitową i automatyczny podajnik próbek. Solaar M6 Unicam Atomic Absorption


Systemy do mineralizacji próbek w układzie zamkniętym MLS-1200 Mega, Milestone oraz UltraWAVE, Milestone