Laboratorium badań powierzchni i analizy śladowej

Atomowy spektrometr emisyjny z plazmą indukcyjnie sprzężoną (ICP-OES) IRIS-AP, Thermo Jarell Ash

• Analizy pierwiastków śladowych w próbkach ciekłych i stałych (organicznych i nieorganicznych, m.in. w materiałach biologicznych, geologicznych i środowiskowych).
• Wysoka precyzja i dokładność, niskie granice wykrywalności, szeroki zakres oznaczanych stężeń, możliwość jednoczesnej analizy wielu pierwiastków.

Spektrometr mas z jonizacją w plazmie sprzężonej indukcyjnie z systemem do odparowania laserowego (ICP-QMS) X-Series Thermo Electron Corporation, Laser Ablation New Wave Research

• Analizy pierwiastków śladowych w próbkach ciekłych i stałych (organicznych i nieorganicznych, m.in. w materiałach biologicznych, geologicznych i środowiskowych).
• Wysoka precyzja i dokładność, niskie granice wykrywalności, szeroki zakres oznaczanych stężeń, możliwość jednoczesnej analizy wielu pierwiastków.
• Impulsowy laser (np. laser neodymowy Nd:YAG) umożliwiający bezpośrednie wprowadzenie próbek ciał stałych do plazmy (rezultatem oddziaływania wysokoenergetycznej wiązki lasera z ciałem stałym jest odparowanie i usunięcie materiału w postaci obojętnych atomów i cząsteczek, oraz jonów, z wystawionej na to promieniowanie powierzchni ciała stałego).
• System LA-ICP-MS stosuje się do analizy różnych materiałów stałych (przewodzących i nieprzewodzących), o różnej wielkości i kształcie, gdzie wiązka lasera z wyjątkowo dokładną lokalizacją może być zogniskowana na bardzo małej powierzchni próbki, a odparowane cząstki są natychmiast analizowane.
• Możliwość wykonania analizy przy znikomym uszkodzeniu próbki.

• Analizy pierwiastków śladowych w próbkach ciekłych i stałych (organicznych i nieorganicznych, m.in. w materiałach biologicznych, geologicznych i środowiskowych).
• Wysoka precyzja i dokładność, niskie granice wykrywalności, szeroki zakres oznaczanych stężeń, możliwość jednoczesnej analizy wielu pierwiastków.
• Impulsowy laser (np. laser neodymowy Nd:YAG) umożliwiający bezpośrednie wprowadzenie próbek ciał stałych do plazmy (rezultatem oddziaływania wysokoenergetycznej wiązki lasera z ciałem stałym jest odparowanie i usunięcie materiału w postaci obojętnych atomów i cząsteczek, oraz jonów, z wystawionej na to promieniowanie powierzchni ciała stałego).
• System LA-ICP-MS stosuje się do analizy różnych materiałów stałych (przewodzących i nieprzewodzących), o różnej wielkości i kształcie, gdzie wiązka lasera z wyjątkowo dokładną lokalizacją może być zogniskowana na bardzo małej powierzchni próbki, a odparowane cząstki są natychmiast analizowane.
• Analizator czasu przelotu (TOF) pozwala na jednoczesne wykrycie wszystkich pierwiastków zawartych w badanych próbkach (między innymi: geologicznych, środowiskowych, kryminalistycznych oraz tekstylnych, jak również w analizie i ochronie dzieł sztuki)
• Możliwość wykonania analizy przy znikomym uszkodzeniu próbki.

Analizator rtęci: MERCURY – SP-3D Nippon Instruments Corporation (CV AAS) oraz MA 3000 Nippon Instruments Corporation

• Oznaczanie za pomocą atomowej spektrometrii absorpcyjnej zawartości rtęci techniką zimnych par (cold vapour atomic absorption spectrometry - CV AAS).
• Możliwość oznaczeń rtęci w próbkach stałych, ciekłych, lotnych oraz benzynach z wysoką czułością i dokładnością.
• Zakres pomiarowy aparatu: 0,01-1000 ng rtęci z rozdzielczością 0,01 ng (granica oznaczalności wynosi 0,01 ng).

• Możliwość badania powierzchni różnorodnych ciał stałych dzięki wysokiej rozdzielczości i dużej głębi ostrości.
• Bezpośrednia obserwacja rozwiniętych powierzchni w dużym zakresie powiększeń od 20 do 500 000 razy ze zdolnością rozdzielczą od 1,5–3 nm (przy napięciu 15 kV).
• Wytworzenie obrazu morfologii próbki za pomocą sygnałów elektronów SE i BSE.
• Analiza jakościowego składu pierwiastkowego powierzchni (widmo promieniowania rentgenowskiego, EDS) oraz rozkład pierwiastków na badanym obszarze próbki (mapy rozkładu EDS).